產業應用
應用案例
使用Avizo了解19 世紀繪畫技巧
SIK-ISEA
畫架繪畫中底子層孔隙度的表徵：這是瞭解其在19世紀和20世紀初繪畫的吸水性、反應性和材料傳送方面的作用的第一步。瑞士藝術研究所(SIK-ISEA)正在研究19世紀末期20世紀初期瑞士畫家的工作室實踐、他們用於繪畫的材料以及畫作隨著時間流逝的退化過程。
除了其他問題，這項研究還觀察繪畫的底子；底子是粘合劑、填料和顏料的混合物，塗在合適的支架上，屬於繪畫前的準備工作。這項研究特別關注了底子的孔隙度、吸收特性、整體外觀和繪畫穩定性之間的可能聯繫。
Max Leu 的肖像（細節），由Cuno Amiet 於1899 年在畫布上繪製，尺寸50.5 x 60 cm，收藏於索洛圖恩藝術博物館。畫家在臉部區域獲得了無光澤的表面。
在自17 世紀後期撰寫的技術資料中可以找到用於製備精益和相對吸性底子的許多不同配方。大多數藝術家喜歡它們有很多原因：它們吸收塗料的部分粘合劑，從而縮短其乾燥過程並使底子和塗料之間的粘附良好。從19 世紀末起，由於吸性底子能夠呈現明亮的色彩和無光澤的圖片表面，它得到了不再從事學術風格畫作的畫家們的大力稱讚。
在試圖表徵孔隙度或底子結合水分的能力的過程中，這項研究著眼於緊迫的保存問題：在繪畫合成中存在吸收層對繪畫的穩定性具有重要影響。人們已經認識到在復雜塗料體系中水加速反應性和水分梯度輔助材料移動性的問題，但從未進行過相關研究。吸性底子層的結構表徵是研究各層之間的材料移動性的第一步。
SIK-ISEA 的藝術技術部門與PSI Villigen 的TOMCAT 光束線的最近研究表明，X 射線斷層掃描是研究完整底子樣品內部結構的特別有效的方法。目前的研究面臨雙重挑戰：(i) 在微米尺度上精確地估計孔隙和毛孔的分佈以及孔隙度網絡的連通性，以及(ii) 可視化水分通過底子的浸透和輸送過程。
目前正在使用 Avizo 軟件研究三維斷層掃描數據集，該軟件通過提供適當的過濾演算法和高級分割工具，實現數據集的可視化和定量分析。
X 射線斷層掃描重構了在Max Leu 肖像邊緣採樣的底漆的圖像。Avizo 軟件的分割和過濾工具允許可視化和量化孔隙度網絡，並在此突出顯示底子中存在大空隙
●關於SIK-ISEA
瑞士藝術研究所(SIK- ISEA) 成立於1951 年，已成為藝術史和藝術技術領域享有國際聲譽的中心。其核心活動是研究、記錄和傳播有關美術、藝術領域和藝術技術的知識和信息。重點研究在瑞士創造的藝術。其研究促進計劃於2008 年啟動，已將SIK-ISEA 建立為一個具有國際視野的高級研究所，並在此過程中為加強瑞士作為研究基地的作用做出了重大貢獻。該研究所是一個非營利性研究機構，以公私合營的形式運營。
Amira 和Avizo 都是高性能三維軟件，用於可視化、分析和理解來自各種來源和形態的科學和工業數據。
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